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機器一覧

設備等名称
メーカー 機種 依頼分析 設置地区
透過型電子顕微鏡 日本電子 JEM-2100F 筑紫
走査型電子顕微鏡 日本電子 JSM-IT700HR 筑紫
走査型電子顕微鏡 日本電子 JSM-6060LA 筑紫
デジタルマイクロスコープ キーエンス VHX-900F 筑紫
粒子画像分析装置 Malvern Panalytical MORPHOLOGI4 筑紫
薄膜・断面試料作製装置(イオンスライサ) 日本電子 EM-09100IS 筑紫

各機器詳細

透過型電子顕微鏡

日本電子 JEM-2100F
基本情報
メーカー
日本電子
機種
JEM-2100F
製造年
-
設置場所
筑紫地区南棟107号室
担当者
田中 雄
依頼分析
受付可
登録名
詳細
電子銃
フィールドエミッション
加速電圧
200kV
測定オプション
電子回折、EDS

走査型電子顕微鏡

日本電子 JSM-IT700HR
基本情報
メーカー
日本電子
機種
JSM-IT700HR
製造年
2020
設置場所
筑紫地区南棟棟109号室
担当者
田中 雄
依頼分析
受付可
登録名
詳細
分解能
1.0nm(20kV、高真空モード)
電子銃
インレンズショットキー電界放出電子銃
加速電圧
0.5~30kV
測定オプション
EDS
日本電子 JSM-6060LA
基本情報
メーカー
日本電子
機種
JSM-6060LA
製造年
-
設置場所
筑紫地区南棟棟109号室
担当者
田中 雄
依頼分析
受付可
登録名
詳細
最大加速電圧
20KV
測定オプション
EDS

デジタルマイクロスコープ

キーエンス VHX-900F
基本情報
メーカー
キーエンス
機種
VHX-900F
製造年
-
設置場所
筑紫地区南棟109号室
担当者
田中 雄
依頼分析
受付可
登録名
詳細
倍率
20~2000倍
測定オプション
フォーカス深度合成、3D表示&計測機能、自動面積カウント

その他

粒子画像分析装置
基本情報
メーカー
Malvern Panalytical
機種
MORPHOLOGI4
製造年
2019
設置場所
筑紫地区南棟109号室
担当者
田中 雄
依頼分析
受付可
登録名
詳細
測定プロパティ
粒子径、粒子形状、粒子個数、粒子位置
測定範囲
0.5μm~1300μm
薄膜・断面試料作製装置(イオンスライサ)
基本情報
メーカー
日本電子
機種
EM-09100IS
製造年
2019
設置場所
筑紫地区南棟109号室
担当者
田中 雄
依頼分析
受付可
登録名
詳細
厚さ100µmの試料から簡便な手順で電子顕微鏡用の薄膜試料が作製できます。