X線回折

X-ray Diffraction & Scattering

結晶構造の決定や粉末・薄膜・全散乱測定に対応するX線装置群です。 Cu／Mo／Ag の波長を試料・目的に応じて選び、単結晶構造解析から PDF（全散乱）解析・オペランド測定まで幅広くカバーします。

対応可能な分析・測定

単結晶X線構造解析粉末X線回折測定薄膜X線回折測定（XRR / In-Plane / RSM / 極点）小角散乱（SAXS / USAXS / GI-SAXS / 2D-SAXS）微小部XRD・XYマッピング全散乱（PDF）解析温度可変・オペランド測定

Instruments

03 items

Rigaku · XtaLAB Synergy-R/DW

Rigaku · SmartLab MP

Rigaku · SmartLab HE

依頼分析・機器利用（来所自己測定）の2つの方法でご利用いただけます。